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新型靜電放電試驗台
產品簡介
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相關文章| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 化工 |
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新型靜電放電試驗台 型號：TC-ESDD-2
產(chan) 品簡介：
EMS61000-2A智能型靜電放電發生器是針對靜電放電抗擾度試驗的特點和要求而專(zhuan) 門設計的高可靠性靜電放電發生器，通過更換阻容套件，可方便的進行IEC模式、HBM模式及MM模式等三種模式試驗， 於(yu) 各類半導體(ti) 器件、電子線路和設備的靜電放電試驗。通過該儀(yi) 器具有性能穩定、使用方便、等優(you) 點。該儀(yi) 器滿足IEC、EN、GB等相關(guan) 標準要求。
新型靜電放電試驗台 技術特性：
ESDD-2靜電放電試驗台是台式設備和落地式設備兩(liang) 種配置的組合。
台式設備試驗台 落地式設備試驗台
水平耦合板： 1600*800*0.8（mm） 垂直耦合板： 500*500*0.8（mm）
垂直耦合板： 500*500*0.8（mm） 垂直耦合板座： 500*500*1200（mm）
緣襯墊： 1400*600*0.5（mm） 緣支座： 1200*800*100（mm）
試驗桌： 1700*900*800（mm） 電阻電纜：470kΩ*2
電阻電纜：470kΩ*2
注：兩(liang) 種配置共用壹塊參考接地板，尺寸為(wei) 2600*1800*0.8（mm）
 | 產品名稱：電容電壓特性測試儀 電容電壓（C-V）特性測試儀 產品型號：KCV300 |
電容電壓特性測試儀(yi) 電容電壓（C-V）特性測試儀(yi) 型號：KCV300
電容電壓特性測試儀(yi) 產(chan) 品簡介
CV法利用PN結或肖特基勢壘在反向偏壓時的電容特性，可以獲得材料中雜質濃度及其分布的信息，這類測量成為(wei) C-V測量技術。這種測量可以提供材料橫截麵均勻性及縱向雜質濃度分布的信息。
組成半導體(ti) 器件的基本結構的PN結具有電容效應（勢壘電容），加正向偏壓時，PN結勢壘區變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓是，PN結勢壘區變寬，勢壘電容變小。
KCV-300電容電壓（C-V）特性測試儀(yi) 是測試頻率為(wei) 1MHz的數字式電容測試儀(yi) 器，於(yu) 測量半導體(ti) 器件PN結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。
儀(yi) 器有較高的分辨率，電容量是四位讀數，可分辨到0.001pF，偏置電壓分辨率為(wei) 0.01V，漏電流分辨率為(wei) 0.01μA。
該測試儀(yi) 器性能穩定可靠，功能齊全，精度高，操作簡單，於(yu) 元件生產(chan) 廠家，科研部門，高等院校等單位。
電容電壓特性測試儀(yi) 主要技術指標如下：
測試信號頻率：1.000MHz±0.01%
測試信號電壓：≤100mVrms
電容測量範圍：0.001pF～10000 pF
誤差：≤±3%
直流偏壓：自帶偏壓0.01～45V，可外接偏壓源拓展；
漏電流：0.1～199.9μA
供電電源：AC220V 50Hz
消耗功率：<40W
 | 產品名稱：片劑硬度測試儀 片劑硬度計 產品型號：YD-I |
片劑硬度測試儀(yi) 片劑硬度計 型號：YD-I
用 途
片劑硬度測試儀(yi) YD-1，是測試片劑硬度值*的檢測儀(yi) 器。該產(chan) 品經國家法定質量監督部門測試，其主要技術指標達到或過國內(nei) 外同類儀(yi) 器的較高水平。
主要特點
YD-1型手動片劑硬度測試儀(yi) 采用單片微型計算機進行控製，高精度壓力傳(chuan) 感器，數字顯示硬度值，單位千克力。
可連續測量片劑的硬度值，人工裝片，手動加壓，自動顯示，自動鎖存，自動複位，自動循環測試。
麵板采用PC塑料麵膜，無按鍵，數碼管顯示
主要元器件及零部件采用進口或國產(chan) 優(you) 質產(chan) 品
結構簡潔，美觀大方，性能優(you) 良，操作簡便，工作可靠
技 術 指 標
硬度測試範圍: 0-20Kgt
硬度測試精度: ±0.05kg
直徑測試範圍: 20mm
電源: 220V 50Hz 10W
當前位置：
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