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新型渦流塗層測厚儀(yi)

產品簡介

新型渦流塗層測厚儀 型號:TD-MC-
應用領域:TD-MC-2000B型渦流塗層測厚儀是一個使用簡單的精密厚度測量工具,廣泛應用於機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。它可以方便無損的測量鐵磁材料上的非磁性塗層的厚度,如鋼鐵表麵上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等塗層的厚度。2000B

產品型號:TD-MC-2000B
更新時間:2024-02-18
廠商性質:生產廠家
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新型渦流塗層測厚儀(yi)    型號:TD-MC-2000B

 

產品名稱:數顯式矽酸根分析儀 矽酸根分析儀
產品型號:ND2012

數顯式矽酸根分析儀(yi) 矽酸根分析儀(yi) 型號:ND2012

ND2012型數顯式矽酸根分析儀(yi) 是一種可供實驗室使用的水質分析儀(yi) 。該儀(yi) 表廣泛應用於(yu) 火力發電廠鍋爐給水蒸氣、化學除鹽水及凝結水中的矽酸根 (SiO2)的含量以及半導體(ti) 器件行業(ye) 、化工廠、製藥廠等純水中的矽酸根含量測定。 
ND2012型數顯式矽酸根分析儀(yi) 主要特點: 
1:光源采用進口單色冷光源,功耗低,壽命長; 
2:光電測量係統設計有恒溫係統,信號不受環境溫度影響,無漂移 
3:智能延時排液 
4:智能延時標定 
ND2012型數顯式矽酸根分析儀(yi)  測量範圍 0~200µg/L (以SiO2計) 
 基本誤差 ± 2% FS 
 耗電功率  < 80W 
 工作電源  220VAC,50HZ 
 重複性誤差  < 1.5% FS 
 長期漂移   < 2% FS (24小時) 
 環境溫度 10℃~40℃ 
 相對濕度 ≤85% 
 保修期一年

TD-MC-2000B型渦流塗層測厚儀(yi) 是一款靈便、易用的塗層測厚儀(yi) 儀(yi) 器,配置的單探頭可檢測鐵質基材上幾乎所有塗鍍覆層。

新型渦流塗層測厚儀(yi)   ■ 產(chan) 品特性:

◆盡在掌握:TD-MC-2000B型渦流塗層測厚儀(yi) 擁有了一個(ge) 完善的測量係統,高品質而且經濟。它使用簡便、體(ti) 積小巧和結構牢固的,隻有幾個(ge) 按鍵,專(zhuan) 為(wei) 單手操作而設計。 能幫助您完成大量的測厚任務,是您塗鍍層厚度測量任務的解決(jue) 方案。
 ◆ 測量:TD-MC-2000B型渦流塗層測厚儀(yi) 的測量單位達到了μm級。高精密的測量再加上寬廣的量程還有什麽(me) 測量任務能難住您呢?
◆ 輕鬆讀取:高對比度液晶顯示,*的自動背光功能,當光線暗時,背景光會(hui) 自動打開。既節省電力又可使您在任何情況下輕鬆讀取數據。
◆ 更加靈活的操作:TD-MC-2000B型渦流塗層測厚儀(yi) 擁有254個(ge) 數據存儲(chu) 空間,可直接連接打印機。還能完成更進一步的數據處理。使用我們(men) 特別設計的應用軟件,您能夠將測試數據檔案從(cong) 測厚儀(yi) 傳(chuan) 送到電腦上,同時還可以為(wei) 您計算8組數據中的大、小、平均值。
◆ 於(yu) 各種應用場合:TD-MC-2000B型渦流塗層測厚儀(yi) 使用單一探頭,可以測量鋼鐵表麵的幾乎所有材質的金屬或非金屬覆層。

■ 應用領域:TD-MC-2000B型渦流塗層測厚儀(yi) 是一個(ge) 使用簡單的精密厚度測量工具,廣泛應用於(yu) 機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(ye) 。它可以方便無損的測量鐵磁材料上的非磁性塗層的厚度,如鋼鐵表麵上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等塗層的厚度。

  ■ 技術參數表:

產(chan) 品型號

 2000B

測量範圍

0~1200μm

誤差

<3%±1μm

基體(ti) 小曲率半徑

凸:1.5mm    凹:6mm

基體(ti) 小厚度

0.2mm

基體(ti) 小平麵

 7mm

探頭

單探頭全量程測量

數據處理

可存儲(chu) 254個(ge) 測量數據、可連接打印機及微機

電源類型

2節七號1.5V電池

儀(yi) 器功耗

 大功耗 100mw

顯示屏

黑白液晶顯示,100ⅹ100,自動背光

顯示信息

耦合指示、測量速率

使用環境

溫度0℃~40℃,相對濕度<90%

外形尺寸

124×50×24mm

重    量

150克


 

 

 

產品名稱:數顯式矽酸根分析儀 矽酸根分析儀
產品型號:ND2012

數顯式矽酸根分析儀(yi) 矽酸根分析儀(yi) 型號:ND2012

ND2012型數顯式矽酸根分析儀(yi) 是一種可供實驗室使用的水質分析儀(yi) 。該儀(yi) 表廣泛應用於(yu) 火力發電廠鍋爐給水蒸氣、化學除鹽水及凝結水中的矽酸根 (SiO2)的含量以及半導體(ti) 器件行業(ye) 、化工廠、製藥廠等純水中的矽酸根含量測定。 
ND2012型數顯式矽酸根分析儀(yi) 主要特點: 
1:光源采用進口單色冷光源,功耗低,壽命長; 
2:光電測量係統設計有恒溫係統,信號不受環境溫度影響,無漂移 
3:智能延時排液 
4:智能延時標定 
ND2012型數顯式矽酸根分析儀(yi)  測量範圍 0~200µg/L (以SiO2計) 
 基本誤差 ± 2% FS 
 耗電功率  < 80W 
 工作電源  220VAC,50HZ 
 重複性誤差  < 1.5% FS 
 長期漂移   < 2% FS (24小時) 
 環境溫度 10℃~40℃ 
 相對濕度 ≤85% 
 保修期一年

 

 

 

產品名稱:應力雙折射儀 晶體應力雙折射儀
產品型號:WYL-4

應力雙折射儀(yi) 晶體(ti) 應力雙折射儀(yi) 型號:WYL-4

儀(yi) 器簡介: 
    透明物體(ti) 由於(yu) 不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因,其內(nei) 部會(hui) 產(chan) 生內(nei) 應力,引起雙折射。晶體(ti) 物質本身具有雙折射的光學特征。WYL-4應力雙折射儀(yi) 采用偏振光電矢量合成及光學補償(chang) 原理,通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應力雙折射的大小。本儀(yi) 器能測定光學波片的光程差、確定光學玻璃的應力級別,是光學儀(yi) 器製造業(ye) *的儀(yi) 器,也是研究晶體(ti) 礦物質的重要工具。 


    儀(yi) 器特點:

★ 直讀納米級光程差,無須計算。
★ 雙分視場零位檢測,靈敏度高。
★ 樣品工作台45度自動定位。 
★ 體(ti) 積小巧,結構緊揍。
★ 操作方便,可靠實。

技 術 參 數

技術指標

儀(yi)             器

WYL-4應力雙折射儀(yi)

單  色  光  波  長

589.44nm

光 程 差 測 定範圍

 ± 590 nm

度   盤   格   值

5nm

Z小讀數(1/5估讀)

1nm

儀(yi) 器 零 位 誤 差

 ±2nm  

波 片 讀 數重複性

1nm

光             源

220V 20W低壓鈉燈

被 檢 樣品Z大尺寸

寬度440mm;長度440mm;高度240 mm

儀(yi) 器 尺 寸 (mm)

413 ×250 ×400

 

 

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