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矽材料複合測試儀(yi)
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矽材料複合測試儀(yi) 型號：SZT-5
矽材料複合測試儀(yi)
是由二種矽材料測試儀(yi) 器組合而成的
1，二量程的電阻測量儀(yi) 器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率
在0.01~200歐姆/厘範圍內(nei) 的半導體(ti) 材料。通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通矽材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正係數，對矽材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正係數為(wei) 4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。
SZT數字式四探針測試儀(yi) ，體(ti) 形小巧，操作方便，量程適中，十分適於(yu) 對重煉回料的分選。
2，整流法矽材料P-N性判別儀(yi) ，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。矽材料進行性判別
本儀(yi) 器工作環境條件為(wei) ：
溫 度：18℃―25℃
相對濕度：50%－70%
工作室內(nei) 應無強電場幹擾，不與(yu) 高頻設備共用電源。
二，技術參數
1,測量範圍
（1）電阻率測量：
電 阻 率 0.01-200Ω-cm
方塊電阻 0.01-200Ω-口
電 阻 0.01-200.0Ω
2,數字電壓表
(1)量 程 : 200mV單一量程
(2)誤 差: 讀數 ±0.2%±3字
(3)輸入電阻 : >10MΩ
3,恒 流 源
(1)電流輸出 0~10mA連續可調
(2)量 程 1mA, 10mA
(3)誤 差 ±0.2%±3字,
4,手持式四探針測試頭
(a)探 針 間 距:: 1mm
(b)探針機械遊移率: ±1.0%
(c)探 針 材 料: 碳化鎢,φ0.
(d)壓力: Z大 2Kg
（2）導電類型判別：
可對電阻率為(wei) 1000-.0.01歐姆/厘米的矽材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬於(yu) "重摻"。
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