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激光光纖幹涉綜合實驗儀(yi)
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激光光纖幹涉綜合實驗儀(yi) 型號：OFKM-Ⅳ
激光光纖幹涉綜合實驗儀(yi)
一、實驗目的
1、熟悉光纖馬赫-曾德爾及邁克爾遜幹涉儀(yi) 的工作原理，並通過自已搭建光路，掌握光路的調整方法。
2、掌握一種用激光幹涉條紋測微小量變化的方法。
3、將光纖分別用在壓力、位移、溫度場內(nei) ，觀察幹涉條紋變化。
二、儀(yi) 器配置與(yu) 技術參數
1、外接電源：220V，50Hz
2、溫度傳(chuan) 感：
1）、溫度範圍：室溫到高於(yu) 室溫20℃左右
2）、靈敏度：MC幹涉儀(yi) 為(wei) 10～20條/℃；MK幹涉儀(yi) 為(wei) 10～20/℃
3、位移傳(chuan) 感（僅(jin) 能用MC幹涉儀(yi) 作）：
1）、測量範圍：0到1.0mm
2）、靈敏度：1條/0.00065mm
4、壓力傳(chuan) 感：
1）、測量範圍：1大氣壓～2大氣壓
2）、靈敏度：MC幹涉儀(yi) 為(wei) 200條左右/KPA；MK幹涉儀(yi) 為(wei) 100條左右/KPA
5、光源和光纖：
1）、650nm激光器，出纖功率大於(yu) 2mw。
2）、分路器：650nm單模2×2分路器，分束比1:1。
3）、650nm單模光纖尺寸：芯直徑小於(yu) 4μm；包層直徑：125μm；保護層直徑：3mm
6、外形尺寸：600（長）×400（寬）×300（高）
7、重量：20Kg
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