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四探針測試儀(yi) 薄膜電阻測定儀(yi)
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四探針測試儀(yi) 薄膜電阻測定儀(yi) 型號： SZT-2A
四探針測試儀(yi) 薄膜電阻測定儀(yi)
1．主機采用**電路設計，所測數值更精、更快、更準（一代為(wei) 傳(chuan) 統式電路，缺點：體(ti) 積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。
2．屏幕采用液晶顯示（一代為(wei) 隻有數碼管顯示）。
3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化（可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據輸入厚度，自動比照並修正係數，使被測結果更精確，數據可儲(chu) 藏或刪除，利於(yu) 使用方保存記錄），此功能為(wei) 選配。
4．二代的測試架采用自動傳(chuan) 感裝置，接近被測物體(ti) 時實行自動減速，避免了被測物體(ti) 的損耗和探頭的磨損（**於(yu) 國內(nei) 市場上任何一款同類產(chan) 品的測試架，老一代為(wei) 手動）還有可以提高測量的精度。
5. 本儀(yi) 器測試電阻、電阻率、方塊電阻時，標準係數為(wei) 機器自帶自調，無需另外手工調整，省去了原儀(yi) 器的諸多麻煩。
6. 本儀(yi) 器的**高分辨率為(wei) 0.1mΩ
7．主機是手自一體(ti) ，測試架是自動的。
8．測試探頭為(wei) 鎢針，市場上多為(wei) 高速鋼針。
9．每次測量均有內(nei) 置計算機自動進行溫度補償(chang) 及電壓電流矯正。
10．整機測量標準不確定度：≤ 2%（國內(nei) 其它廠家誤差為(wei) ≤ 5% ）
11. 技術參數：
1)． 測量範圍：
電阻率：10的-4次方~10的5 次方Ω-cm（可擴展）
方塊電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω/□（可擴展）
電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω（可擴展）
2)． 可測半導體(ti) 材料尺寸
直徑：5mm-200mm （可以外延）
長度：≤400mm
3)． 測量方法：
軸向、斷麵均可
4)． 顯示方式：41/2,數顯,**性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
5)． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續可調。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數±1個(ge) 字
6).四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械遊移率:±1.0%
7).電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
注解：以上紅色標注的特點都是我公司四探針測試儀(yi) **一無二的功能，**國內(nei) 所有的四探針生產(chan) 企業(ye) 。
此款儀(yi) 器的配件如下：自動主機一台，全自動測試架一套（其中探頭一根，全自動測試架一台），電源線和四夾子測試線各一根，軟件一套，聯想商務筆記本電腦一台， 電子版說明說一份。
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