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台式千分測厚儀(yi)

產品簡介

台式千分測厚儀
產品型號：CH1ST
分 度 值：0.001mm
測量範圍與準確度：0mm～1mm ≤0.005mm
主要用途：於實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（Z大測量深度為80mm）

產品型號：CH1ST
更新時間：2024-02-12
廠商性質：生產廠家
訪問量：600

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台式千分測厚儀(yi) 型號：CH1ST

台式千分測厚儀(yi)

分 度 值：0.001mm
測量範圍與(yu) 準確度：0mm～1mm ≤0.005mm
主要用途：適用於(yu) 實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（Z大測量深度為(wei) 80mm）
執行標準：GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993

分 度 值：0.001mm
測量範圍與(yu) 準確度：0mm～1mm ≤0.005mm
主要用途：適用於(yu) 實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（Z大測量深度為(wei) 80mm）
執行標準：GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993

分 度 值：0.001mm
測量範圍與(yu) 準確度：0mm～1mm ≤0.005mm
主要用途：適用於(yu) 實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（Z大測量深度為(wei) 80mm）
執行標準：GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993

分 度 值：0.001mm
測量範圍與(yu) 準確度：0mm～1mm ≤0.005mm
主要用途：適用於(yu) 實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（Z大測量深度為(wei) 80mm）
執行標準：GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993

分 度 值：0.001mm
測量範圍與(yu) 準確度：0mm～1mm ≤0.005mm
主要用途：適用於(yu) 實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（Z大測量深度為(wei) 80mm）
執行標準：GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993

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