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靜電場描繪實驗儀(yi)
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靜電場描繪實驗儀(yi) 型號：JDC-4
靜電場描繪實驗儀(yi)
一、產(chan) 品簡介
本設備在技術上采用了細工藝，大幅度提高使用壽命，淘汰了原來導電橡膠探頭易耗、更換頻繁的弱點，改為(wei) 紫銅探頭。結構由原來的雙層改為(wei) 單層，使儀(yi) 器使用更方便，測試更直觀，記錄更精確。並真正做到儀(yi) 器的一體(ti) 化，使用運輸保管更方便。在價(jia) 格上做到提質不提價(jia) 。
二、技術參數
1、導電層均勻性相對誤差＜3%。
2、電與(yu) 鍍膜層接觸電阻＜0.1Ω。
3、鍍層與(yu) 電的阻值比＞104.
4、測量點與(yu) 描繪點之間＜1mm.
5、實驗值與(yu) 理論值的相對＜5%。
6、鍍層的強度，經smc-1型強度試驗儀(yi) ，經過一萬(wan) 次磨擦試驗，鍍膜完好無損。
7、電源輸出2v—10v連續可調。
8、電源的內(nei) 阻＜0.1Ω。
9、電源調整率優(you) 於(yu) 0.5%。
10、三位半液晶顯示。
三、基本原理
在一些科學研究和生產(chan) 實踐中，往往需要了解帶電體(ti) 周圍靜電場的分布情況，一般來說帶電體(ti) 的形狀比較複雜，很難用理論方法進行計算。用實驗手段直接研究或測繪靜電場通常也很困難。因為(wei) 儀(yi) 表（或其探測頭）放入靜電場，總要使被測場原有分布狀態發生畸變，而且除靜電式儀(yi) 表之外的一般磁電式儀(yi) 表不能用於(yu) 靜電場的直接測量，因為(wei) 靜電場中不會(hui) 有電流流過，對這些儀(yi) 表不起作用。所以，人們(men) 常用“模擬法"間接測繪靜電場的分布。
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