半導體分立器件測試
產品特點：
測試品種覆蓋麵廣、測試精度高、電參數測試全、速度快、有良好的重複性和*性、工作穩定可靠，具有保護係統和被測器件的能力。測試儀由計算機操控，測試數據可存儲打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能（圖示儀功能）。

產品型號：CS2935

更新時間：2024-02-08

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半導體(ti) 分立器件測試儀(yi) 型號：CS2935

半導體(ti) 分立器件測試儀(yi)
一、產(chan) 品特點：
測試品種覆蓋麵廣、測試精度高、電參數測試全、速度快、有良好的重複性和一致性、工作穩定可靠，具有保護係統和被測器件的能力。測試儀(yi) 由計算機操控，測試數據可存儲(chu) 打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能（圖示儀(yi) 功能）。係統軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。係統軟件穩定可靠、硬件故障率低，在實際測試應用中各項技術指標均可達到器件手冊(ce) 技術指標及國標要求。
二、測試參數
1．二管
VF、IR、BVR
2．  穩壓（齊納）二管
VF、IR、BV Z
3．  晶體(ti) 管       Transistor（NPN型/PNP型）
      VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4．   可控矽整流器（晶閘管）
IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5．  場效應管
IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS

6．  光電耦合器
VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
*7．三端穩壓器
VO、SV、ID、IDV

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