二管參數測試儀

二管參數測試儀(yi) 型號：JFY2012B

產(chan) 品應用和概述

1 介紹

JFY2012B型二管參數測試儀(yi) 是專(zhuan) 為(wei) 測試半導體(ti) 的功能和參數設計的,可測試整流二管,三端肖特基整流器,.其良好的中文界麵軟件,簡化了用戶對JFY2012B的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,存入EEPROM中.此外,不需附加任何軟件或經過特殊培訓,就可操作該儀(yi) 器.

JFY2012B有以下特點:

※ 大屏幕液晶,中文操作界麵,顯示直觀簡潔,操作方麵簡單.

     ※ 大容量EEPROM存儲(chu) 器,儲(chu) 存量可多達1000種設置型號數.

※全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

※內(nei) 置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

※ 測試電流分辨率1uA,測試電壓Z高可達1400V.

※ 重複”回路”式測試解決(jue) 了元件發熱和間歇的問題.

※ 軟件自校準功能.

1.2 概述

JFY2012B為(wei) 各種普通二管，肖特基二管等提供了正向壓降（VF）反向耐(VR),反向漏電流(IR) Z主要參數的測試,和參數”合格/不合格”(OK/NO)測試,,測試正向壓降電流Z大可達100A,耐壓可達1400V，且用戶可通過機器上的鍵盤,很容易的把測試條件輸入進去,並將參數存入EEPROM中,便於(yu) 日後方便且快速的打開調用.

.1  功能測試電路

自動模式:自動檢測有無DUT放於(yu) 測試座中,有則自動處於(yu) 重複測試狀態,無則處於(yu) 重複檢測狀態.

手動模式; （剛開始未測試時屏幕白屏屬正常現象）當測試開關(guan) 按下後才自動對測試座中的DUT進行檢測測試，長按開關(guan) 不鬆開則處於(yu) 重複測試狀態,鬆開開關(guan) 則自動停止測試.

1.2. 2 設備規格

電源電壓：AC220V，50HZ，       功率：≤75W。

工作環境：0—40°C ，    相對濕度：≯85%  。

外形尺寸：300×300×20mm  。

重量：約4.5 Kg  。