便攜式四探針電阻率測試儀KDY-1A

便攜式四探針電阻率測試儀(yi) KDY-1A
概述
是用來測量矽晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀(yi) 器。
本儀(yi) 器按照半導體(ti) 材料電阻率的及國家標準測試方法有關(guan) 規定設計。
它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為(wei) 減小體(ti) 積，本儀(yi) 器用同一塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀(yi) 器不僅(jin) 可以用來分先材料也可以用來作產(chan) 品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不過±3%，在此範圍內(nei) 達到國家標準一級機的水平。
測量範圍：
可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩(liang) 檔
10mA量程：0.1～1mA 連續可調
10mA量程：1mA ～10mA連續可調
恒流精度：各檔均優(you) 於(yu) ±0.1%
適合測量各種厚度的矽片
（3） 直流數字電壓表
測量範圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準確度：0.2%（±2個(ge) 字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用環境：
相對濕度≤80%
（6） 重量、體(ti) 積
重量：2.2 公斤
體(ti) 積：寬210×高100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N